共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
芯片性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310618469.0
申请日：
2023-05-29
公开(公告)号：
CN119044740A
公开(公告)日：
2024-11-29
发明(设计)人：
请求不公布姓名
申请人：
上海寒武纪信息科技有限公司
申请人地址：
201306 上海市浦东新区同汇路168号B座6层
IPC主分类号：
G01R31/3181
IPC分类号：
代理机构：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人：
刘贺秋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
上海市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-17 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3181申请日:20230529 |
| 2024-11-29 | 公开 | 公开 |