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储氢合金电性能开口电池测试装置及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811374916.8
申请日
:
2018-11-19
公开(公告)号
:
CN109444755A
公开(公告)日
:
2019-03-08
发明(设计)人
:
皮雄
任权兵
刘秋红
钟鸣
申请人
:
申请人地址
:
330096 江西省南昌市高新技术产业开发区创新二路1117号
IPC主分类号
:
G01R31385
IPC分类号
:
G01R31378
代理机构
:
南昌市平凡知识产权代理事务所 36122
代理人
:
许艳
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-08
公开
公开
2019-04-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/385 申请日:20181119
共 50 条
[1]
储氢合金电性能开口电池测试装置
[P].
皮雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
皮雄
;
任权兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
任权兵
;
刘秋红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘秋红
;
钟鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钟鸣
.
中国专利
:CN209373068U
,2019-09-10
[2]
储氢合金测试装置
[P].
吕京宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕京宁
;
刘晨熙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘晨熙
;
何冬梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何冬梅
.
中国专利
:CN206990494U
,2018-02-09
[3]
一种储氢合金粉电性能测试装置
[P].
皮雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
皮雄
;
任权兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
任权兵
;
郑波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑波
;
刘强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘强
.
中国专利
:CN218122039U
,2022-12-23
[4]
一种储氢合金性能测试装置
[P].
周倩青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周倩青
;
陈德敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈德敏
;
邓晓霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓晓霞
;
陈宏辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈宏辉
;
杨柯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨柯
.
中国专利
:CN101419149B
,2009-04-29
[5]
电池电性能测试装置
[P].
顾国梁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾国梁
;
王福庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王福庆
;
郑吴明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑吴明
;
肖攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖攀
.
中国专利
:CN218181061U
,2022-12-30
[6]
双面电池的电性能测试装置
[P].
李兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李兵
;
刘运宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘运宇
;
李硕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李硕
.
中国专利
:CN209842006U
,2019-12-24
[7]
单体动力电池及储能电池电性能测试装置
[P].
贾奉娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾奉娟
;
刘洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘洋
.
中国专利
:CN306420561S
,2021-03-30
[8]
电池性能测试方法及电池性能测试装置
[P].
阎全忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阎全忠
;
李洁辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李洁辰
.
中国专利
:CN114740380A
,2022-07-12
[9]
基于温压控制的锂电池材料电性能测试装置及测试方法
[P].
谭立志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭立志
;
陈欣蕊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈欣蕊
;
赵彦民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵彦民
;
王松蕊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王松蕊
;
宁凡雨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宁凡雨
;
李晓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李晓
.
中国专利
:CN112557924A
,2021-03-26
[10]
晶片电性能测试装置
[P].
李晓佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李晓佳
;
王毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王毅
.
中国专利
:CN207164176U
,2018-03-30
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