一种半导体光电特性测试盒

被引：0

申请号：

CN202122642636.4

申请日：

2021-11-01

公开(公告)号：

CN217360156U

公开(公告)日：

2022-09-02

发明(设计)人：

金玄

申请人：

申请人地址：

215222 江苏省苏州市吴江区松陵镇长安路3099号南楼2201-11室

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3100 G01R104 G01M1102

代理机构：

宿迁市永泰睿博知识产权代理事务所(普通合伙) 32264

代理人：

刘慧

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体光电特性测试盒 [P].

陈凯飞 .

中国专利 :CN203415813U ,2014-01-29

[2]

一种半导体标准器件特性测试盒 [P].

赵建颖 ;

李淼 ;

李严峰 ;

张志远 .

中国专利 :CN210534199U ,2020-05-15

[3]

一种控温的半导体光电特性测试样品架 [P].

张砚华 ;

卢励吾 .

中国专利 :CN2331083Y ,1999-07-28

[4]

一种低温半导体测试盒 [P].

金玄 .

中国专利 :CN217931908U ,2022-11-29

[5]

一种新型半导体薄层样品特性测试仪 [P].

张晗 ;

何致远 ;

黄林 ;

唐一文 ;

曲桐 ;

唐瑜 ;

王玥 ;

刘玉龙 .

中国专利 :CN209927934U ,2020-01-10

[6]

一种半导体激光电源 [P].

张胜 ;

张大春 .

中国专利 :CN203233050U ,2013-10-09

[7]

半导体激光器光电及偏振特性测试系统 [P].

袁治远 ;

刘晖 ;

孙翔 ;

王昊 ;

李希 ;

刘兴胜 .

中国专利 :CN303306759S ,2015-07-29

[8]

一种半导体光电性能测试装置 [P].

陈辰 ;

宋杰 ;

罗官 .

中国专利 :CN215526024U ,2022-01-14

[9]

一种半导体光电测试样品架 [P].

黄星 .

中国专利 :CN207780074U ,2018-08-28

[10]

一种半导体测试设备 [P].

江俊 .

中国专利 :CN210513571U ,2020-05-12

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