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一种半导体光电性能测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121861766.0
申请日：
2021-08-10
公开(公告)号：
CN215526024U
公开(公告)日：
2022-01-14
发明(设计)人：
陈辰
宋杰
罗官
申请人：
申请人地址：
277800 山东省枣庄市高新区复元三路智能制造小镇五号楼
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
济南尚本知识产权代理事务所(普通合伙) 37307
代理人：
董洁
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-14 | 授权 | 授权 |