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一种半导体晶闸管性能测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021804703.7
申请日：
2020-08-26
公开(公告)号：
CN213091804U
公开(公告)日：
2021-04-30
发明(设计)人：
杨狄
申请人：
申请人地址：
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇恒盛路1219号009幢4#车间5楼
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
北京高航知识产权代理有限公司 11530
代理人：
乔浩刚
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-04-30 | 授权 | 授权 |