芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210152377.3

申请日：

2022-02-18

公开(公告)号：

CN114528792A

公开(公告)日：

2022-05-24

发明(设计)人：

崔昭华

申请人：

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道月明路560号1幢1号楼第5层5013室

IPC主分类号：

G06F303308

IPC分类号：

G06F1126 G06F11502

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

杜月

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-24	公开	公开
2022-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/3308 申请日:20220218

共 50 条

[1]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 ;

王正 .

中国专利 :CN114330176A ,2022-04-12

[2]

芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P].

徐炜 ;

高红莉 ;

王磊 ;

潘于 .

中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22

[3]

一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵玉杰 .

中国专利 :CN121233406A ,2025-12-30

[4]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

谢维 .

中国专利 :CN115422864A ,2022-12-02

[5]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN115099186A ,2022-09-23

[6]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱永启 ;

刘冠豪 .

中国专利 :CN117131821B ,2024-01-16

[7]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

[8]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN115099186B ,2025-02-18

[9]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘焱柏 ;

屈新 ;

张满新 .

中国专利 :CN119761273A ,2025-04-04

[10]

芯片的验证方法及装置、电子设备与存储介质 [P].

王佩 ;

潘于 .

中国专利 :CN118690719A ,2024-09-24

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