一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511303793.9
申请日
2025-09-12
公开(公告)号
CN121233406A
公开(公告)日
2025-12-30
发明(设计)人
赵玉杰
申请人
海光信息技术(成都)有限公司
申请人地址
610095 四川省成都市高新区府城大道西段399号7栋2单元10楼1002号
IPC主分类号
G06F11/22
IPC分类号
G06F30/398
代理机构
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
张仲波
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
崔昭华 .
中国专利 :CN114528792A ,2022-05-24
[2]
一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
施凌飞 ;
邱栋 ;
王贤慧 .
中国专利 :CN121144119A ,2025-12-16
[3]
FPGA芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵井坤 ;
孙莉莉 ;
王常慧 ;
杜金凤 ;
李杨 .
中国专利 :CN119990016A ,2025-05-13
[4]
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘焱柏 ;
屈新 ;
张满新 .
中国专利 :CN119761273A ,2025-04-04
[5]
芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王佩 ;
高红莉 ;
潘于 .
中国专利 :CN114357939A ,2022-04-15
[6]
一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马建宁 ;
姚香君 ;
孟阳 ;
张世凯 ;
许强 ;
刘世伟 ;
闫主 .
中国专利 :CN120764478A ,2025-10-10
[7]
芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117494638A ,2024-02-02
[8]
芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117494638B ,2024-06-18
[9]
一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
方文明 .
中国专利 :CN120874699A ,2025-10-31
[10]
一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
韦艳双 ;
尚铮 .
中国专利 :CN120872703A ,2025-10-31