一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511120011.8

申请日：

2025-08-11

公开(公告)号：

CN121144119A

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

施凌飞邱栋王贤慧

申请人：

成都海光集成电路设计有限公司

申请人地址：

610041 四川省成都市高新区和乐二街171号3栋

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵玉杰 .

中国专利 :CN121233406A ,2025-12-30

[2]

FPGA芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵井坤 ;

孙莉莉 ;

王常慧 ;

杜金凤 ;

李杨 .

中国专利 :CN119990016A ,2025-05-13

[3]

芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王佩 ;

高红莉 ;

潘于 .

中国专利 :CN114357939A ,2022-04-15

[4]

一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马建宁 ;

姚香君 ;

孟阳 ;

张世凯 ;

许强 ;

刘世伟 ;

闫主 .

中国专利 :CN120764478A ,2025-10-10

[5]

芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117494638A ,2024-02-02

[6]

芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117494638B ,2024-06-18

[7]

一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高超 ;

凌霄 .

中国专利 :CN113656227A ,2021-11-16

[8]

一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高超 ;

凌霄 .

中国专利 :CN113656227B ,2024-07-19

[9]

芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P].

徐炜 ;

高红莉 ;

王磊 ;

潘于 .

中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22

[10]

一种芯片的验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘静 ;

潘于 .

中国专利 :CN115563911A ,2023-01-03

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