芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111681126.6

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN114357939A

公开(公告)日：

2022-04-15

发明(设计)人：

王佩高红莉潘于

申请人：

申请人地址：

300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G06F30398

IPC分类号：

G06F1122 G06F11502 G06F11508

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/398 申请日:20211230
2022-04-15	公开	公开

共 50 条

[1]

FPGA芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵井坤 ;

孙莉莉 ;

王常慧 ;

杜金凤 ;

李杨 .

中国专利 :CN119990016A ,2025-05-13

[2]

芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117494638A ,2024-02-02

[3]

芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117494638B ,2024-06-18

[4]

芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P].

徐炜 ;

高红莉 ;

王磊 ;

潘于 .

中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22

[5]

一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

施凌飞 ;

邱栋 ;

王贤慧 .

中国专利 :CN121144119A ,2025-12-16

[6]

一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵玉杰 .

中国专利 :CN121233406A ,2025-12-30

[7]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN115099186A ,2022-09-23

[8]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN114528792A ,2022-05-24

[9]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 ;

王正 .

中国专利 :CN114330176A ,2022-04-12

[10]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱永启 ;

刘冠豪 .

中国专利 :CN117131821B ,2024-01-16

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