一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510873390.1

申请日：

2025-06-26

公开(公告)号：

CN120874699A

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

方文明

申请人：

海光信息技术股份有限公司

申请人地址：

300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G06F30/33

IPC分类号：

G06F30/323

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

公开

国省代码：

天津市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	公开	公开
2025-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20250626

共 50 条

[1]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN114528792A ,2022-05-24

[2]

一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵玉杰 .

中国专利 :CN121233406A ,2025-12-30

[3]

芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P].

徐炜 ;

高红莉 ;

王磊 ;

潘于 .

中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22

[4]

芯片验证平台的调用方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宋方圆 ;

谢云龙 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN119862829A ,2025-04-22

[5]

芯片验证平台的调用方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宋方圆 ;

谢云龙 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN119862829B ,2025-07-11

[6]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

谢维 .

中国专利 :CN115422864A ,2022-12-02

[7]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN115099186A ,2022-09-23

[8]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 ;

王正 .

中国专利 :CN114330176A ,2022-04-12

[9]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱永启 ;

刘冠豪 .

中国专利 :CN117131821B ,2024-01-16

[10]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

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