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芯片验证平台的调用方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510352820.5
申请日：
2025-03-24
公开(公告)号：
CN119862829A
公开(公告)日：
2025-04-22
发明(设计)人：
宋方圆 谢云龙 唐丹 包云岗
申请人：
北京开源芯片研究院
申请人地址：
100084 北京市海淀区海淀大街31号3层312
IPC主分类号：
G06F30/33
IPC分类号：
G06F30/337
代理机构：
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人：
莎日娜
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-11 授权 授权
2025-04-22 公开 公开
2025-05-09 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20250324
共 50 条
[1]
芯片验证平台的调用方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
宋方圆 ;
谢云龙 ;
唐丹 ;
包云岗 .
中国专利 :CN119862829B ,2025-07-11
[2]
芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117494638A ,2024-02-02
[3]
芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117494638B ,2024-06-18
[4]
芯片功能验证方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
李正玉 ;
胡旭 ;
徐光柳 .
中国专利 :CN113704043A ,2021-11-26
[5]
数字芯片验证方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
陈竞飞 ;
宋超 .
中国专利 :CN121092383A ,2025-12-09
[6]
芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P]. 
徐炜 ;
高红莉 ;
王磊 ;
潘于 .
中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22
[7]
一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
方文明 .
中国专利 :CN120874699A ,2025-10-31
[8]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
向秋东 ;
郭文平 .
中国专利 :CN118627435A ,2024-09-10
[9]
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
崔昭华 .
中国专利 :CN115099186A ,2022-09-23
[10]
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
崔昭华 .
中国专利 :CN114528792A ,2022-05-24
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