产品测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引:0
申请号
CN202210707115.9
申请日
2022-06-21
公开(公告)号
CN115102640A
公开(公告)日
2022-09-23
发明(设计)人
李俊灵 桂平 李振东
申请人
申请人地址
518101 广东省深圳市宝安区新安街道留仙三路长丰工业园F3栋2楼
IPC主分类号
H04B1718
IPC分类号
H04L430817
代理机构
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
赖远龙
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
产品测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
李俊灵 ;
桂平 ;
李振东 .
中国专利 :CN115102640B ,2024-08-09
[2]
测试装置、测试方法、计算机设备和存储介质 [P]. 
别立夫 ;
谢旭 .
中国专利 :CN120703472A ,2025-09-26
[3]
仿真测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
谭富文 ;
谢丹 ;
桂平 ;
李振东 .
中国专利 :CN115598997A ,2023-01-13
[4]
测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
孟召潮 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN117370085B ,2025-02-28
[5]
测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
孟召潮 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN117370085A ,2024-01-09
[6]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P]. 
王浩天 ;
吴铭奖 .
中国专利 :CN118331871A ,2024-07-12
[7]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P]. 
万欣 ;
宋国栋 ;
焦岩 .
中国专利 :CN119271542A ,2025-01-07
[8]
测试装置、方法、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
齐浩 ;
陈宁 ;
张则民 ;
施文泽 .
中国专利 :CN114490208A ,2022-05-13
[9]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
周俊 .
中国专利 :CN118656296A ,2024-09-17
[10]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
刘明 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN118349406A ,2024-07-16