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测试装置、测试方法、计算机设备和存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410342171.6
申请日
:
2024-03-22
公开(公告)号
:
CN120703472A
公开(公告)日
:
2025-09-26
发明(设计)人
:
别立夫
谢旭
申请人
:
武汉联影智融医疗科技有限公司
申请人地址
:
430070 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区高科园路99号联影医疗武汉总部基地A区
IPC主分类号
:
G01R31/00
IPC分类号
:
G01R31/34
G01R1/04
G01D21/02
代理机构
:
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
:
乔改利
法律状态
:
公开
国省代码
:
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-26
公开
公开
2025-10-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20240322
共 50 条
[1]
测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质
[P].
谢东辰
论文数:
0
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0
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0
谢东辰
;
郝金隆
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0
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郝金隆
.
中国专利
:CN115391190A
,2022-11-25
[2]
测试方法、测试装置、计算机设备和介质
[P].
樊宇
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0
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樊宇
;
王晓琦
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王晓琦
;
黄泽琪
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黄泽琪
;
邱鹏
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邱鹏
;
杨丽涛
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杨丽涛
;
朱飞
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朱飞
;
刘俐洋
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刘俐洋
;
曾丹
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曾丹
.
中国专利
:CN112632992A
,2021-04-09
[3]
测试装置、方法、计算机设备和存储介质
[P].
孙平
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孙平
;
宋刚
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宋刚
;
李鸷
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李鸷
;
刘雪明
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刘雪明
.
中国专利
:CN112526220A
,2021-03-19
[4]
测试方法、测试装置、测试工具、存储介质和计算机设备
[P].
张小涵
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0
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
张小涵
;
郑佳明
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
郑佳明
;
刘东旭
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
刘东旭
.
中国专利
:CN120011225A
,2025-05-16
[5]
测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质
[P].
江殿宇
论文数:
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江殿宇
;
苏航
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苏航
;
刘佳
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刘佳
;
曾维
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曾维
.
中国专利
:CN113900912B
,2022-01-07
[6]
信号测试装置、方法、计算机设备和存储介质
[P].
姜红兵
论文数:
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姜红兵
;
郭燕慧
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郭燕慧
;
曹双林
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曹双林
;
黄建新
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黄建新
;
邹小兵
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邹小兵
;
聂华
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聂华
.
中国专利
:CN114137332A
,2022-03-04
[7]
产品测试方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
李俊灵
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李俊灵
;
桂平
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桂平
;
李振东
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李振东
.
中国专利
:CN115102640A
,2022-09-23
[8]
产品测试方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
李俊灵
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0
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机构:
深圳市易飞扬通信技术有限公司
深圳市易飞扬通信技术有限公司
李俊灵
;
桂平
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机构:
深圳市易飞扬通信技术有限公司
深圳市易飞扬通信技术有限公司
桂平
;
李振东
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0
机构:
深圳市易飞扬通信技术有限公司
深圳市易飞扬通信技术有限公司
李振东
.
中国专利
:CN115102640B
,2024-08-09
[9]
电池片的测试装置、测试方法和计算机设备、存储介质
[P].
韩玉浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
韩玉浩
.
中国专利
:CN118413192B
,2025-05-30
[10]
电池片的测试装置、测试方法和计算机设备、存储介质
[P].
韩玉浩
论文数:
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机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
韩玉浩
.
中国专利
:CN118413192A
,2024-07-30
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