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测试方法、测试装置、计算机设备和介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910908199.0
申请日
:
2019-09-24
公开(公告)号
:
CN112632992A
公开(公告)日
:
2021-04-09
发明(设计)人
:
樊宇
王晓琦
黄泽琪
邱鹏
杨丽涛
朱飞
刘俐洋
曾丹
申请人
:
申请人地址
:
100086 北京市海淀区知春路76号6层
IPC主分类号
:
G06F40295
IPC分类号
:
G06K962
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
杨静
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 40/295 申请日:20190924
2021-04-09
公开
公开
共 50 条
[1]
测试装置、测试方法、计算机设备和存储介质
[P].
别立夫
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
武汉联影智融医疗科技有限公司
武汉联影智融医疗科技有限公司
别立夫
;
谢旭
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机构:
武汉联影智融医疗科技有限公司
武汉联影智融医疗科技有限公司
谢旭
.
中国专利
:CN120703472A
,2025-09-26
[2]
测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质
[P].
江殿宇
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江殿宇
;
苏航
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苏航
;
刘佳
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刘佳
;
曾维
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曾维
.
中国专利
:CN113900912B
,2022-01-07
[3]
测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质
[P].
谢东辰
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谢东辰
;
郝金隆
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郝金隆
.
中国专利
:CN115391190A
,2022-11-25
[4]
测试装置、方法、计算机设备和存储介质
[P].
孙平
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孙平
;
宋刚
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宋刚
;
李鸷
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李鸷
;
刘雪明
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刘雪明
.
中国专利
:CN112526220A
,2021-03-19
[5]
测试方法、测试装置、测试工具、存储介质和计算机设备
[P].
张小涵
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
张小涵
;
郑佳明
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
郑佳明
;
刘东旭
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机构:
北京世纪好未来教育科技有限公司
北京世纪好未来教育科技有限公司
刘东旭
.
中国专利
:CN120011225A
,2025-05-16
[6]
信号测试装置、方法、计算机设备和存储介质
[P].
姜红兵
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姜红兵
;
郭燕慧
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郭燕慧
;
曹双林
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曹双林
;
黄建新
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黄建新
;
邹小兵
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邹小兵
;
聂华
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聂华
.
中国专利
:CN114137332A
,2022-03-04
[7]
测试设备、测试方法、计算机设备和计算机可读存储介质
[P].
吴承明
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吴承明
;
朱阿男
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朱阿男
;
毛孝飞
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毛孝飞
;
丁明华
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丁明华
.
中国专利
:CN108490338A
,2018-09-04
[8]
测试装置、方法和计算机设备
[P].
李青
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
李青
;
潘宁
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
潘宁
;
李赫然
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
李赫然
;
张航
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
张航
;
胡恒广
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
胡恒广
;
闫冬成
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
闫冬成
;
李志军
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
李志军
;
唐旭东
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机构:
河北光兴半导体技术有限公司
河北光兴半导体技术有限公司
唐旭东
.
中国专利
:CN118730322A
,2024-10-01
[9]
测试方法、测试装置、测试设备和计算机可读存储介质
[P].
李方庆
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
李方庆
;
陈沫
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
陈沫
;
陈凯
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京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
陈凯
;
鲁思颖
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
鲁思颖
.
中国专利
:CN120260447A
,2025-07-04
[10]
电池片的测试装置、测试方法和计算机设备、存储介质
[P].
韩玉浩
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机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
韩玉浩
.
中国专利
:CN118413192B
,2025-05-30
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