基于LabVIEW的电路测试系统及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510616665.X

申请日：

2015-09-24

公开(公告)号：

CN105158677A

公开(公告)日：

2015-12-16

发明(设计)人：

江涛高红博周倪青

申请人：

申请人地址：

241009 安徽省芜湖市经济技术开发区长春路8号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107

代理人：

朱圣荣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101642485151 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201510616665X 申请日:20150924
2015-12-16	公开	公开
2019-04-26	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20151216

共 50 条

[1]

一种新型基于FPGA的可动态配置扫描链电路测试系统及方法 [P].

张竣昊 ;

魏江杰 ;

王啸卿 ;

苏文虎 .

中国专利 :CN115825698B ,2025-09-09

[2]

基于LABVIEW的IC测试系统 [P].

袁俊 .

中国专利 :CN202693750U ,2013-01-23

[3]

基于LabVIEW的电路板自动测试系统 [P].

于洋 ;

丁喜波 ;

胡逸 ;

李春玉 .

中国专利 :CN204789908U ,2015-11-18

[4]

芯片测试方法、测试电路及测试系统 [P].

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117723936A ,2024-03-19

[5]

基于LabView的测试方法和测试系统 [P].

饶维治 ;

郭庆明 .

中国专利 :CN111324544A ,2020-06-23

[6]

基于GPIB协议的集成电路芯片测试方法、上位机及测试系统 [P].

孙恺凡 ;

马锡春 ;

奚留华 ;

张凯虹 ;

陆坚 .

中国专利 :CN115047312A ,2022-09-13

[7]

基于LabVIEW的测试方法 [P].

严寒文 .

中国专利 :CN112925699A ,2021-06-08

[8]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24

[9]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[10]

基于LabVIEW的CAN总线自收发测试系统及其测试方法 [P].

王军伟 ;

封淼 ;

宋宇 ;

胡玲 .

中国专利 :CN106385340A ,2017-02-08

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