电路测试系统及电路测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910042985.7

申请日：

2019-01-17

公开(公告)号：

CN111443275B

公开(公告)日：

2020-07-24

发明(设计)人：

陈莹晏许烱发杨嘉瑞陈柏霖

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

梁丽超;田喜庆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190117
2020-07-24	公开	公开
2022-06-17	授权	授权

共 50 条

[1]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[2]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19

[3]

电路测试系统 [P].

曹伟华 ;

郭雯 .

中国专利 :CN104422872A ,2015-03-18

[4]

电路测试防护箱及电路测试系统 [P].

杨秋霞 ;

梁曼荣 ;

黎丽 .

中国专利 :CN215866785U ,2022-02-18

[5]

电路测试系统及方法 [P].

赵建领 ;

刘聪展 .

中国专利 :CN102778647A ,2012-11-14

[6]

电路测试系统及方法 [P].

马瑞平 ;

彭爽 .

中国专利 :CN102540631A ,2012-07-04

[7]

一种电路测试方法及电路测试系统 [P].

吴俊纬 ;

李禹奉 .

中国专利 :CN103529354B ,2014-01-22

[8]

电路测试系统 [P].

曹太云 ;

李鹏 ;

王虎 ;

张云川 ;

王秀娥 .

中国专利 :CN222105595U ,2024-12-03

[9]

电路测试系统 [P].

陈攀 ;

徐红如 ;

王吉健 .

中国专利 :CN218071478U ,2022-12-16

[10]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

金吉松 .

中国专利 :CN120847576A ,2025-10-28

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