电路测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010616892.X

申请日：

2010-12-31

公开(公告)号：

CN102540631A

公开(公告)日：

2012-07-04

发明(设计)人：

马瑞平彭爽

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G03B7085

IPC分类号：

G03B902 H04N5232

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-10	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101727730551 IPC(主分类):G03B 7/085 专利申请号:201010616892X 申请公布日:20120704
2012-07-04	公开	公开
2013-08-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101508525598 IPC(主分类):G03B 7/085 专利申请号:201010616892X 申请日:20101231

共 50 条

[1]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24

[2]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19

[3]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[4]

电路测试系统及方法 [P].

赵建领 ;

刘聪展 .

中国专利 :CN102778647A ,2012-11-14

[5]

一种电路测试方法及电路测试系统 [P].

吴俊纬 ;

李禹奉 .

中国专利 :CN103529354B ,2014-01-22

[6]

电路测试防护箱及电路测试系统 [P].

杨秋霞 ;

梁曼荣 ;

黎丽 .

中国专利 :CN215866785U ,2022-02-18

[7]

电路测试系统、方法及相关设备 [P].

林建明 ;

聂建平 .

中国专利 :CN119644119A ,2025-03-18

[8]

一种BMS电路测试系统及测试方法 [P].

汤平 ;

熊刚 ;

邓秉杰 ;

王伟平 ;

黄才旺 ;

陈火槟 .

中国专利 :CN110703071B ,2020-01-17

[9]

一种电路测试系统及方法 [P].

王亦鹏 ;

卢普峰 ;

朱子轩 ;

高学敏 ;

王思鸣 ;

孙刘骏 .

中国专利 :CN118731632A ,2024-10-01

[10]

电路测试系统 [P].

曹太云 ;

李鹏 ;

王虎 ;

张云川 ;

王秀娥 .

中国专利 :CN222105595U ,2024-12-03

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