电路测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210295582.1

申请日：

2012-08-17

公开(公告)号：

CN102778647A

公开(公告)日：

2012-11-14

发明(设计)人：

赵建领刘聪展

申请人：

申请人地址：

100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司 72003

代理人：

张艳杰;张浴月

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20120817 授权公告日:20150415 终止日期:20180817
2013-01-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101375970350 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2012102955821 申请日:20120817
2015-04-15	授权	授权
2012-11-14	公开	公开

共 50 条

[1]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19

[2]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24

[3]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[4]

电路测试系统及方法 [P].

马瑞平 ;

彭爽 .

中国专利 :CN102540631A ,2012-07-04

[5]

一种电路测试方法及电路测试系统 [P].

吴俊纬 ;

李禹奉 .

中国专利 :CN103529354B ,2014-01-22

[6]

电路测试系统 [P].

曹伟华 ;

郭雯 .

中国专利 :CN104422872A ,2015-03-18

[7]

电路测试防护箱及电路测试系统 [P].

杨秋霞 ;

梁曼荣 ;

黎丽 .

中国专利 :CN215866785U ,2022-02-18

[8]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

金吉松 .

中国专利 :CN120847576A ,2025-10-28

[9]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN117631339A ,2024-03-01

[10]

电路测试系统、方法及相关设备 [P].

林建明 ;

聂建平 .

中国专利 :CN119644119A ,2025-03-18

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