电路测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310360508.8

申请日：

2013-08-19

公开(公告)号：

CN104422872A

公开(公告)日：

2015-03-18

发明(设计)人：

曹伟华郭雯

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-18	公开	公开
2017-04-05	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101749628291 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2013103605088 申请公布日:20150318

共 50 条

[1]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19

[2]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24

[3]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[4]

电路测试系统及方法 [P].

赵建领 ;

刘聪展 .

中国专利 :CN102778647A ,2012-11-14

[5]

电路测试系统 [P].

曹太云 ;

李鹏 ;

王虎 ;

张云川 ;

王秀娥 .

中国专利 :CN222105595U ,2024-12-03

[6]

电路测试系统 [P].

陈攀 ;

徐红如 ;

王吉健 .

中国专利 :CN218071478U ,2022-12-16

[7]

电路测试防护箱及电路测试系统 [P].

杨秋霞 ;

梁曼荣 ;

黎丽 .

中国专利 :CN215866785U ,2022-02-18

[8]

测试电路、测试系统及其测试方法 [P].

蒋昊 .

中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27

[9]

测试电路、测试板及测试系统 [P].

官勐杰 ;

刘敏 ;

齐鲁欣 .

中国专利 :CN114994510A ,2022-09-02

[10]

电路测试系统、方法及相关设备 [P].

林建明 ;

聂建平 .

中国专利 :CN119644119A ,2025-03-18

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