允许更高光强度的利用时间相关单光子计数的荧光寿命成像显微学方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780043767.4

申请日：

2017-05-24

公开(公告)号：

CN109477796B

公开(公告)日：

2019-03-15

发明(设计)人：

V·塞弗里德 B·威兹高斯基 F·赫克特

申请人：

申请人地址：

德国韦茨拉尔

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280

代理人：

王勇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-15	公开	公开
2022-05-31	授权	授权
2019-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20170524

共 16 条

[1]

采用时间相关的单光子计数的荧光寿命-显微-方法 [P].

弗兰克·赫克特 ;

伯纳德·韦兹戈夫斯基 .

德国专利 :CN111712705B ,2024-08-23

[2]

采用时间相关的单光子计数的荧光寿命-显微-方法 [P].

弗兰克·赫克特 ;

伯纳德·韦兹戈夫斯基 .

中国专利 :CN111712705A ,2020-09-25

[3]

基于荧光强度和寿命时空复用的荧光寿命超分辨显微成像技术 [P].

屈军乐 ;

朱雪钢 ;

王璐玮 ;

刘丽炜 ;

陈钰 ;

翁晓羽 ;

李佳 .

中国专利 :CN121113980A ,2025-12-12

[4]

一种用于时间相关单光子计数的多成分荧光寿命及成分比例估计方法 [P].

于红旗 .

中国专利 :CN105675568A ,2016-06-15

[5]

基于单光子计数的瞬态荧光寿命测量方法及测量系统 [P].

黄晓淳 ;

李得勇 ;

翁羽翔 .

中国专利 :CN102590159B ,2012-07-18

[6]

基于单光子雪崩二极管的单像素荧光多维显微成像方法 [P].

尹君 ;

韦耀鹏 ;

于凌尧 ;

闫克松 ;

刘帅 ;

耿森 ;

梁锐婧 ;

苗琰 ;

苑立波 .

中国专利 :CN117723515A ,2024-03-19

[7]

光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法 [P].

鄢秋荣 ;

王慧 ;

袁成龙 ;

李冰 .

中国专利 :CN108387560A ,2018-08-10

[8]

一种时间相关单光子计数的尾流探测装置及其运行方法 [P].

孙剑峰 ;

张银波 ;

周鑫 ;

刘迪 ;

张欣 ;

杨现辉 ;

马乐 ;

张海龙 .

中国专利 :CN113447232B ,2021-09-28

[9]

一种互补测量的时间分辨单光子计数成像系统及方法 [P].

翟光杰 ;

王超 ;

赵清 ;

俞文凯 ;

刘雪峰 .

中国专利 :CN102769460A ,2012-11-07

[10]

基于单光子雪崩二极管探测器的快速荧光寿命成像方法 [P].

李鼎 ;

徐跃 ;

吴仲 .

中国专利 :CN108007584B ,2018-05-08