硬盘性能自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111359630.4

申请日：

2021-11-17

公开(公告)号：

CN114049909A

公开(公告)日：

2022-02-15

发明(设计)人：

张迎华蒲嘉鹏毕建华董家宽顾峰罗春风孙长安

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市昆山市玉山镇南淞路88号

IPC主分类号：

G11C2908

IPC分类号：

G11C2956

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

衡滔

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/08 申请日:20211117
2022-02-15	公开	公开

共 50 条

[1]

硬盘性能自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张迎华 ;

蒲嘉鹏 ;

毕建华 ;

董家宽 ;

顾峰 ;

罗春风 ;

孙长安 .

中国专利 :CN114049909B ,2025-05-06

[2]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

楚琳琳 .

中国专利 :CN117493170A ,2024-02-02

[3]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵宇 ;

黄永龙 ;

李阳 .

中国专利 :CN120909915A ,2025-11-07

[4]

插件自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

李勇 ;

徐潇 .

中国专利 :CN118152275A ,2024-06-07

[5]

一种硬盘性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

房振南 ;

陈杰 ;

柴兆文 ;

黄建新 .

中国专利 :CN114090357A ,2022-02-25

[6]

硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张权 .

中国专利 :CN117687850A ,2024-03-12

[7]

接口自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

鲍东 .

中国专利 :CN118210707A ,2024-06-18

[8]

一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁源铎 ;

张晓谦 ;

孙忠刚 ;

刘双双 ;

张静 .

中国专利 :CN114490423A ,2022-05-13

[9]

一种设备自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关胜利 ;

代飞 ;

罗永金 ;

洪思敏 ;

何卓亮 ;

陈珊 .

中国专利 :CN120765168A ,2025-10-10

[10]

自动化测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

杜鹏飞 ;

戴灵 ;

张宗琦 ;

常新锋 .

中国专利 :CN119166493A ,2024-12-20

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