一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210170028.4

申请日：

2022-02-23

公开(公告)号：

CN114490423A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

梁源铎张晓谦孙忠刚刘双双张静

申请人：

申请人地址：

130011 吉林省长春市汽车经济技术开发区新红旗大街1号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京远智汇知识产权代理有限公司 11659

代理人：

穆雪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220223
2022-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

楚琳琳 .

中国专利 :CN117493170A ,2024-02-02

[2]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵宇 ;

黄永龙 ;

李阳 .

中国专利 :CN120909915A ,2025-11-07

[3]

一种设备自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关胜利 ;

代飞 ;

罗永金 ;

洪思敏 ;

何卓亮 ;

陈珊 .

中国专利 :CN120765168A ,2025-10-10

[4]

硬盘性能自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张迎华 ;

蒲嘉鹏 ;

毕建华 ;

董家宽 ;

顾峰 ;

罗春风 ;

孙长安 .

中国专利 :CN114049909A ,2022-02-15

[5]

硬盘性能自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张迎华 ;

蒲嘉鹏 ;

毕建华 ;

董家宽 ;

顾峰 ;

罗春风 ;

孙长安 .

中国专利 :CN114049909B ,2025-05-06

[6]

一种自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王皓 .

中国专利 :CN115454823A ,2022-12-09

[7]

插件自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

李勇 ;

徐潇 .

中国专利 :CN118152275A ,2024-06-07

[8]

接口自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

鲍东 .

中国专利 :CN118210707A ,2024-06-18

[9]

自动化测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

杜鹏飞 ;

戴灵 ;

张宗琦 ;

常新锋 .

中国专利 :CN119166493A ,2024-12-20

[10]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈岑 ;

郑志芬 ;

李长乐 .

中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23

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