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金属氧化物后处理方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201880050680.4
申请日
:
2018-08-01
公开(公告)号
:
CN110998788A
公开(公告)日
:
2020-04-10
发明(设计)人
:
佐藤达也
刘炜
夏立群
申请人
:
申请人地址
:
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
:
H01L2102
IPC分类号
:
H01L21285
H01L21324
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
徐金国;赵静
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-05-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20180801
2020-04-10
公开
公开
共 50 条
[1]
金属氧化物后处理方法
[P].
佐藤达也
论文数:
0
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0
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机构:
应用材料公司
应用材料公司
佐藤达也
;
刘炜
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机构:
应用材料公司
应用材料公司
刘炜
;
夏立群
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机构:
应用材料公司
应用材料公司
夏立群
.
美国专利
:CN110998788B
,2024-08-23
[2]
金属氧化物膜、金属氧化物层叠体及金属氧化物层叠体的制造方法
[P].
饭塚宗明
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机构:
日油株式会社
日油株式会社
饭塚宗明
;
藤村俊伸
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机构:
日油株式会社
日油株式会社
藤村俊伸
;
中里克己
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机构:
日油株式会社
日油株式会社
中里克己
;
佐藤享平
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机构:
日油株式会社
日油株式会社
佐藤享平
;
平田纯也
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机构:
日油株式会社
日油株式会社
平田纯也
.
日本专利
:CN120051436A
,2025-05-27
[3]
金属氧化物膜的制造方法
[P].
小堀裕之
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小堀裕之
;
大川晃次郎
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大川晃次郎
;
中川博喜
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中川博喜
;
薮内庸介
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薮内庸介
;
野村圭介
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野村圭介
.
中国专利
:CN101056716B
,2007-10-17
[4]
金属氧化物薄膜及其制造方法
[P].
福久孝治
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福久孝治
;
中岛章
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中岛章
;
筱原贤次
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筱原贤次
;
渡部俊也
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渡部俊也
;
大崎寿
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大崎寿
;
芹川正
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芹川正
.
中国专利
:CN1564876A
,2005-01-12
[5]
金属氧化物-硅氧化物分层膜
[P].
普尔凯特·阿加瓦尔
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机构:
朗姆研究公司
朗姆研究公司
普尔凯特·阿加瓦尔
;
刘培基
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机构:
朗姆研究公司
朗姆研究公司
刘培基
;
拉维·库马尔
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朗姆研究公司
朗姆研究公司
拉维·库马尔
;
詹尼弗·利·佩特拉利亚
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机构:
朗姆研究公司
朗姆研究公司
詹尼弗·利·佩特拉利亚
;
伊斯瓦·斯里尼瓦桑
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机构:
朗姆研究公司
朗姆研究公司
伊斯瓦·斯里尼瓦桑
;
巴特·J·范施拉芬迪克
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机构:
朗姆研究公司
朗姆研究公司
巴特·J·范施拉芬迪克
.
美国专利
:CN119968693A
,2025-05-09
[6]
金属氧化物膜及金属氧化物膜的形成方法
[P].
高桥正弘
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高桥正弘
;
广桥拓也
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广桥拓也
;
津吹将志
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津吹将志
;
石原典隆
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石原典隆
;
太田将志
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太田将志
.
中国专利
:CN105779940A
,2016-07-20
[7]
金属氧化物膜及金属氧化物膜的形成方法
[P].
高桥正弘
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高桥正弘
;
广桥拓也
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广桥拓也
;
津吹将志
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津吹将志
;
石原典隆
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石原典隆
;
太田将志
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太田将志
.
中国专利
:CN105734493B
,2016-07-06
[8]
金属氧化物膜及金属氧化物膜的形成方法
[P].
高桥正弘
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高桥正弘
;
广桥拓也
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广桥拓也
;
津吹将志
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津吹将志
;
石原典隆
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石原典隆
;
太田将志
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0
太田将志
.
中国专利
:CN105870196A
,2016-08-17
[9]
金属氧化物膜及金属氧化物膜的形成方法
[P].
高桥正弘
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高桥正弘
;
广桥拓也
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广桥拓也
;
津吹将志
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津吹将志
;
石原典隆
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石原典隆
;
太田将志
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太田将志
.
中国专利
:CN104769150A
,2015-07-08
[10]
金属氧化物膜及金属氧化物膜的形成方法
[P].
高桥正弘
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机构:
株式会社半导体能源研究所
株式会社半导体能源研究所
高桥正弘
;
广桥拓也
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机构:
株式会社半导体能源研究所
株式会社半导体能源研究所
广桥拓也
;
津吹将志
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机构:
株式会社半导体能源研究所
株式会社半导体能源研究所
津吹将志
;
石原典隆
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机构:
株式会社半导体能源研究所
株式会社半导体能源研究所
石原典隆
;
太田将志
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0
机构:
株式会社半导体能源研究所
株式会社半导体能源研究所
太田将志
.
日本专利
:CN109065553B
,2025-07-01
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