TALBOT-LAU X射线源和干涉测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910717134.8

申请日：

2019-08-05

公开(公告)号：

CN110808112A

公开(公告)日：

2020-02-18

发明(设计)人：

云文兵西尔维娅·贾·云·路易斯雅诺什·科瑞大卫·维恩

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G21G404

IPC分类号：

G21G406 G21K508 H01J3502

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

林强

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-02-18	公开	公开
2020-03-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G21G 4/04 申请日:20190805

共 50 条

[1]

一种X射线Talbot-Lau光栅相衬成像方法 [P].

吴朝 ;

林绮思 ;

关勇 ;

高昆 ;

刘刚 ;

田扬超 ;

陆亚林 .

中国专利 :CN114113167A ,2022-03-01

[2]

一种X射线Talbot-Lau光栅相衬成像方法 [P].

吴朝 ;

林绮思 ;

关勇 ;

高昆 ;

刘刚 ;

田扬超 ;

陆亚林 .

中国专利 :CN114113167B ,2024-07-09

[3]

X射线Talbot干涉仪和X射线Talbot干涉仪系统 [P].

半田宗一郎 .

中国专利 :CN105992557B ,2016-10-05

[4]

X射线Talbot干涉仪和X射线Talbot干涉仪系统 [P].

半田宗一郎 .

中国专利 :CN109115816A ,2019-01-01

[5]

X射线源和成像系统 [P].

S.戈斯曼 ;

O.海德 ;

T.休斯 .

中国专利 :CN105164784A ,2015-12-16

[6]

X射线源和制造X射线源的方法 [P].

R·K·O·贝林 ;

T·施伦克 ;

T·雷佩宁 .

中国专利 :CN110785827A ,2020-02-11

[7]

X射线源和包含这种X射线源的X射线设备 [P].

威廉·汉克 ;

托马斯·默特尔迈尔 .

中国专利 :CN102099888B ,2011-06-15

[8]

X射线源及包括X射线源的系统 [P].

乔纳斯·迪伦 .

中国专利 :CN106794470A ,2017-05-31

[9]

X射线源及包括X射线源的系统 [P].

乔纳斯·迪伦 .

中国专利 :CN113145306A ,2021-07-23

[10]

一种X射线源和X射线源装置 [P].

邓顺利 ;

赵建军 .

中国专利 :CN205265987U ,2016-05-25

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