X射线Talbot干涉仪和X射线Talbot干涉仪系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580008324.2

申请日：

2015-02-12

公开(公告)号：

CN105992557B

公开(公告)日：

2016-10-05

发明(设计)人：

半田宗一郎

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

A61B600

IPC分类号：

G01N2320 G21K102

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

欧阳帆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-14	授权	授权
2016-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101686681205 IPC(主分类):A61B 6/00 专利申请号:2015800083242 申请日:20150212
2016-10-05	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线Talbot干涉仪和X射线Talbot干涉仪系统 [P].

半田宗一郎 .

中国专利 :CN109115816A ,2019-01-01

[2]

简易X射线干涉仪 [P].

高鸿奕 ;

陈建文 ;

谢红兰 ;

朱化凤 ;

李儒新 ;

徐至展 .

中国专利 :CN1563926A ,2005-01-12

[3]

孪生波带片X射线干涉仪 [P].

陈建文 ;

高鸿奕 ;

朱化凤 ;

干慧菁 ;

李儒新 ;

徐至展 .

中国专利 :CN1603737A ,2005-04-06

[4]

X射线双频全息干涉仪 [P].

陈建文 ;

高鸿奕 ;

谢红兰 ;

李儒新 ;

徐至展 .

中国专利 :CN2674400Y ,2005-01-26

[5]

X射线双频全息干涉仪 [P].

陈建文 ;

高鸿奕 ;

谢红兰 ;

李儒新 ;

徐至展 .

中国专利 :CN1216271C ,2004-11-03

[6]

用于相衬成像的X射线干涉仪 [P].

C·戴维 ;

F·普费弗 .

中国专利 :CN101495853A ,2009-07-29

[7]

基于Talbot干涉仪的扫描式光栅写入法及扫描式Talbot干涉仪 [P].

李川 .

中国专利 :CN1725042A ,2006-01-25

[8]

TALBOT-LAU X射线源和干涉测量系统 [P].

云文兵 ;

西尔维娅·贾·云·路易斯 ;

雅诺什·科瑞 ;

大卫·维恩 .

中国专利 :CN110808112A ,2020-02-18

[9]

一种X射线干涉仪及成像系统 [P].

葛永帅 ;

梁栋 ;

陈剑威 ;

刘新 ;

郑海荣 .

中国专利 :CN111721786A ,2020-09-29

[10]

干涉仪和用于运行干涉仪的方法 [P].

A.默茨 ;

M.胡斯尼克 ;

M.施密德 ;

B.施泰因 ;

C.舍林 .

中国专利 :CN109564344A ,2019-04-02

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