一种用于半导体芯片射频测试的夹具

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120874971.4
申请日
2021-04-26
公开(公告)号
CN214794912U
公开(公告)日
2021-11-19
发明(设计)人
王存良
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市高新区天智路14号时代智谷创业园155室
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
深圳市兴科达知识产权代理有限公司 44260
代理人
谢佳航
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于半导体芯片射频测试的夹具 [P]. 
孙静 ;
孙晓颖 .
中国专利 :CN201622288U ,2010-11-03
[2]
一种用于半导体芯片射频测试的夹具 [P]. 
严维新 ;
荣春华 ;
曹庚才 ;
许保花 .
中国专利 :CN214703687U ,2021-11-12
[3]
一种用于半导体芯片射频测试的夹具 [P]. 
李维繁星 ;
沈红星 ;
王悦 .
中国专利 :CN218341886U ,2023-01-20
[4]
一种用于半导体芯片射频测试的夹具 [P]. 
杨更华 .
中国专利 :CN207096284U ,2018-03-13
[5]
用于半导体芯片推力测试的夹具 [P]. 
饶安俊 .
中国专利 :CN221517558U ,2024-08-13
[6]
一种半导体芯片封装用固定夹具 [P]. 
陈刚 ;
白书磊 ;
顾华 .
中国专利 :CN223333772U ,2025-09-12
[7]
一种半导体芯片测试座 [P]. 
刘磊 ;
侯显能 .
中国专利 :CN220961610U ,2024-05-14
[8]
一种用于半导体芯片的测试插座 [P]. 
郭峻岭 .
中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22
[9]
半导体芯片封装测试夹具 [P]. 
宋继伟 ;
佟存柱 ;
蒋宁 ;
李金宝 ;
李浩 .
中国专利 :CN220854957U ,2024-04-26
[10]
一种半导体芯片封装测试夹具 [P]. 
沈焘焘 ;
江亮亮 .
中国专利 :CN222449931U ,2025-02-11