一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200520036392.3

申请日：

2005-12-06

公开(公告)号：

CN2874523Y

公开(公告)日：

2007-02-28

发明(设计)人：

李恩郭高凤张其劭

申请人：

申请人地址：

610054四川省成都市建设北路二段四号

IPC主分类号：

G01R3112

IPC分类号：

G01R3100

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-02-28	授权	授权
2011-02-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101038288925 IPC(主分类):G01R 31/12 专利号:ZL2005200363923 申请日:20051206 授权公告日:20070228 终止日期:20100106

共 50 条

[1]

一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

张其劭 .

中国专利 :CN1790040A ,2006-06-21

[2]

低损耗电介质材料高温复介电常数测试装置及方法 [P].

李恩 ;

李仲平 ;

聂在平 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

张大海 ;

张其劭 ;

王金明 .

中国专利 :CN101187683B ,2008-05-28

[3]

一种高温微波测试用圆柱形高Q谐振腔 [P].

李恩 ;

李仲平 ;

聂在平 ;

郭高凤 ;

张大海 ;

何凤梅 ;

王金明 ;

张其劭 .

中国专利 :CN201142354Y ,2008-10-29

[4]

一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

陈聪慧 ;

戈弋 ;

高源慈 ;

聂瑞星 .

中国专利 :CN102707155A ,2012-10-03

[5]

一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

陈聪慧 ;

戈弋 ;

高源慈 ;

聂瑞星 .

中国专利 :CN202661552U ,2013-01-09

[6]

一种用于高温下微波测试的圆柱形高Q谐振腔 [P].

李恩 ;

李仲平 ;

聂在平 ;

郭高凤 ;

张大海 ;

何凤梅 ;

王金明 ;

张其劭 .

中国专利 :CN101275979A ,2008-10-01

[7]

一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置 [P].

王益 ;

张翠翠 ;

王建忠 ;

魏竹 .

中国专利 :CN104965127A ,2015-10-07

[8]

同轴谐振腔复介电常数高温测试系统及方法 [P].

余承勇 ;

李恩 ;

龙嘉威 ;

李亚峰 ;

高冲 ;

张云鹏 ;

高勇 ;

郑虎 ;

郭高凤 ;

李灿平 .

中国专利 :CN108680839B ,2018-10-19

[9]

电介质材料微波复介电常数测试系统及方法 [P].

李恩 ;

田锟鹏 ;

徐金秋 ;

张云鹏 ;

崔红玲 ;

郭高凤 .

中国专利 :CN104407232B ,2015-03-11

[10]

一种圆柱形波导谐振腔 [P].

郭高凤 ;

徐汝军 ;

李恩 ;

周扬 ;

唐晓明 .

中国专利 :CN101813727A ,2010-08-25

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