低损耗电介质材料高温复介电常数测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710050352.8

申请日：

2007-10-30

公开(公告)号：

CN101187683B

公开(公告)日：

2008-05-28

发明(设计)人：

李恩李仲平聂在平郭高凤何凤梅张大海张其劭王金明

申请人：

申请人地址：

610054 四川省成都市建设北路二段四号

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

G01R3100 H01P700

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-12-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101554522748 IPC(主分类):G01R 27/26 专利号:ZL2007100503528 申请日:20071030 授权公告日:20100519 终止日期:20121030
2010-05-19	授权	授权
2008-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-05-28	公开	公开

共 50 条

[1]

电介质材料微波复介电常数测试系统及方法 [P].

李恩 ;

田锟鹏 ;

徐金秋 ;

张云鹏 ;

崔红玲 ;

郭高凤 .

中国专利 :CN104407232B ,2015-03-11

[2]

一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

张其劭 .

中国专利 :CN2874523Y ,2007-02-28

[3]

一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

张其劭 .

中国专利 :CN1790040A ,2006-06-21

[4]

复介电常数测试装置及测试方法 [P].

曹宇 ;

阮琳 .

中国专利 :CN118980865A ,2024-11-19

[5]

低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法 [P].

赵飞 ;

裴静 ;

阚劲松 ;

王酣 .

中国专利 :CN107132420A ,2017-09-05

[6]

一种介质材料高温复介电常数测量装置 [P].

郭高凤 ;

李恩 ;

王益 ;

聂瑞星 ;

周杨 ;

高源慈 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN102393490B ,2012-03-28

[7]

一种介质材料高温复介电常数测量装置 [P].

郭高凤 ;

李恩 ;

王益 ;

聂瑞星 ;

周杨 ;

高源慈 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN202383208U ,2012-08-15

[8]

固体电介质复介电常数测量方法 [P].

梁昌洪 ;

郑家骏 .

中国专利 :CN1274083A ,2000-11-22

[9]

一种微波介质材料复介电常数测试方法 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

周杨 ;

高源慈 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN102116804A ,2011-07-06

[10]

基于终端短路法的介质材料高温复介电常数测量方法 [P].

李恩 ;

李仲平 ;

聂在平 ;

何凤梅 ;

郭高凤 ;

张大海 ;

张其劭 ;

王金明 .

中国专利 :CN101158702A ,2008-04-09

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