低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710220506.7

申请日：

2017-04-06

公开(公告)号：

CN107132420A

公开(公告)日：

2017-09-05

发明(设计)人：

赵飞裴静阚劲松王酣

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区亦庄经济技术开发区同济南路8号

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

代理机构：

北京恩赫律师事务所 11469

代理人：

赵文成

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-09-05	公开	公开
2017-09-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101750797479 IPC(主分类):G01R 27/26 专利申请号:2017102205067 申请日:20170406
2019-07-12	授权	授权

共 50 条

[1]

高介低损耗陶瓷微波复介电常数的测试方法 [P].

周东祥 ;

龚树萍 ;

陈晓平 ;

梁飞 ;

潘杰夫 .

中国专利 :CN1203307C ,2003-11-05

[2]

电介质材料微波复介电常数测试系统及方法 [P].

李恩 ;

田锟鹏 ;

徐金秋 ;

张云鹏 ;

崔红玲 ;

郭高凤 .

中国专利 :CN104407232B ,2015-03-11

[3]

低损耗电介质材料高温复介电常数测试装置及方法 [P].

李恩 ;

李仲平 ;

聂在平 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

张大海 ;

张其劭 ;

王金明 .

中国专利 :CN101187683B ,2008-05-28

[4]

一种高损耗液体及粉末材料微波复介电常数测试新方法 [P].

李恩 ;

韩利存 ;

郭高凤 ;

高源慈 ;

郑虎 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN104237648A ,2014-12-24

[5]

介质薄膜微波复介电常数的测量装置 [P].

王德苗 ;

金浩 ;

董树荣 ;

谢银芳 .

中国专利 :CN1834667A ,2006-09-20

[6]

高介电常数低损耗微波介质陶瓷 [P].

郑兴华 .

中国专利 :CN1648101A ,2005-08-03

[7]

中介电常数低损耗的微波介质陶瓷 [P].

李玲霞 ;

夏往所 ;

张明名 ;

国栋 ;

王鸣婧 .

中国专利 :CN102765939B ,2012-11-07

[8]

同轴谐振腔复介电常数高温测试系统及方法 [P].

余承勇 ;

李恩 ;

龙嘉威 ;

李亚峰 ;

高冲 ;

张云鹏 ;

高勇 ;

郑虎 ;

郭高凤 ;

李灿平 .

中国专利 :CN108680839B ,2018-10-19

[9]

具有开孔短路板的材料复介电常数测试系统及方法 [P].

李恩 ;

王依超 ;

郭高凤 .

中国专利 :CN104090171A ,2014-10-08

[10]

一种微波介质材料复介电常数测试方法 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

周杨 ;

高源慈 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN102116804A ,2011-07-06

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