瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011639446.0
申请日
2020-12-31
公开(公告)号
CN112669299A
公开(公告)日
2021-04-16
发明(设计)人
茅心悦
申请人
申请人地址
201803 上海市嘉定区金沙江西路1555弄398号7层
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06K962 G06T773 G06N308 G01N2188
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
张振军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
茅心悦 .
中国专利 :CN112669300A ,2021-04-16
[2]
瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
王念欧 ;
郦轲 ;
刘文华 ;
万进 .
中国专利 :CN117611580A ,2024-02-27
[3]
瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
王念欧 ;
郦轲 ;
刘文华 ;
万进 .
中国专利 :CN117611580B ,2024-05-24
[4]
瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
罗伟节 ;
安汝峤 ;
靳展 ;
林欢 ;
何兵 ;
任鹏 .
中国专利 :CN119312259B ,2025-07-18
[5]
瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
罗伟节 ;
安汝峤 ;
靳展 ;
林欢 ;
何兵 ;
任鹏 .
中国专利 :CN119312259A ,2025-01-14
[6]
图像瑕疵检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117808758A ,2024-04-02
[7]
溢胶瑕疵检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P]. 
于丽 .
中国专利 :CN113284113B ,2024-06-28
[8]
溢胶瑕疵检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P]. 
于丽 .
中国专利 :CN113284113A ,2021-08-20
[9]
织物瑕疵的检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P]. 
韦帅 ;
朱浩 ;
莫兆忠 .
中国专利 :CN114419004A ,2022-04-29
[10]
织物瑕疵的检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P]. 
韦帅 ;
朱浩 ;
莫兆忠 .
中国专利 :CN114419004B ,2024-09-06