测试方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710351465.5

申请日：

2017-05-18

公开(公告)号：

CN107193736B

公开(公告)日：

2017-09-22

发明(设计)人：

王劲燕郑才灵扈朝兴陆旭姜志晨

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨江区江南大道3588号恒生大厦

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

姜怡;黄玉霞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-28	授权	授权
2017-09-22	公开	公开
2017-10-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20170518

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

吴玉培 .

中国专利 :CN113592305B ,2024-08-13

[2]

测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩兵兵 ;

杨与争 ;

张燕琴 ;

高昊 ;

赵芸卿 ;

刘瀛 ;

何枫 .

中国专利 :CN117909229A ,2024-04-19

[3]

测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

吴玉培 .

中国专利 :CN113592305A ,2021-11-02

[4]

测试方法、电子设备以及存储介质 [P].

陈功 ;

徐银威 .

中国专利 :CN117857774A ,2024-04-09

[5]

代码测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

甘振文 .

中国专利 :CN113656296A ,2021-11-16

[6]

系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

杨德宽 .

中国专利 :CN114328047B ,2025-12-05

[7]

回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

李洋 ;

陈蕾 .

中国专利 :CN115454826A ,2022-12-09

[8]

电阻测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

王昕 ;

王增超 ;

喇元 ;

汤子豪 ;

吕鹏翔 ;

朱艺伟 .

中国专利 :CN119881450A ,2025-04-25

[9]

页面测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

张俊超 ;

靳铃花 ;

刘云 ;

梁文艳 ;

李玉梅 .

中国专利 :CN115687107B ,2025-10-10

[10]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

董小瑞 ;

宋立辉 .

中国专利 :CN114924940B ,2025-11-11

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