回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质

被引:0
申请号
CN202211008898.8
申请日
2022-08-22
公开(公告)号
CN115454826A
公开(公告)日
2022-12-09
发明(设计)人
李洋 陈蕾
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京钲霖知识产权代理有限公司 11722
代理人
李英艳;杨继成
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
回归测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
朱鸿儒 ;
魏立明 ;
张茂杰 ;
姜威 ;
张雪娇 .
中国专利 :CN120653540A ,2025-09-16
[2]
测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
吴玉培 .
中国专利 :CN113592305B ,2024-08-13
[3]
测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
吴玉培 .
中国专利 :CN113592305A ,2021-11-02
[4]
系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
杨德宽 .
中国专利 :CN114328047B ,2025-12-05
[5]
系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
杨德宽 .
中国专利 :CN114328047A ,2022-04-12
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何俊 ;
马振克 ;
沈卫杰 .
中国专利 :CN118012687A ,2024-05-10
[7]
文档测试方法及其装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
李都都 ;
邹涛 .
中国专利 :CN113361239A ,2021-09-07
[8]
文档测试方法及其装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
李都都 ;
邹涛 .
中国专利 :CN113361239B ,2024-06-25
[9]
回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张晓明 ;
孟文龙 .
中国专利 :CN114546830A ,2022-05-27
[10]
回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
关记红 ;
牛红梅 .
中国专利 :CN114490365A ,2022-05-13