测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410123287.0
申请日
2024-01-26
公开(公告)号
CN118012687A
公开(公告)日
2024-05-10
发明(设计)人
何俊 马振克 沈卫杰
申请人
安谋科技(中国)有限公司
申请人地址
518054 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
IPC主分类号
G06F11/26
IPC分类号
代理机构
北京市立方律师事务所 11330
代理人
王静丽
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙绍宗 .
中国专利 :CN117851265A ,2024-04-09
[2]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王芸红 .
中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘俊启 ;
谷铁峰 ;
姬路涛 .
中国专利 :CN115964277B ,2025-11-18
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
韩玉祥 ;
梁雨霏 .
中国专利 :CN114756473A ,2022-07-15
[5]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珺 ;
农华莲 ;
韩照光 .
中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24
[6]
回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
李洋 ;
陈蕾 .
中国专利 :CN115454826A ,2022-12-09
[7]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张星亮 ;
丁湘和 .
中国专利 :CN112363948A ,2021-02-12
[8]
压力测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘文龙 .
中国专利 :CN114265729A ,2022-04-01
[9]
功能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈玺 .
中国专利 :CN115408211A ,2022-11-29
[10]
灰度测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘群峰 ;
向康 ;
李佳伦 .
中国专利 :CN120821652A ,2025-10-21