回归测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210066502.9

申请日：

2022-01-20

公开(公告)号：

CN114546830A

公开(公告)日：

2022-05-27

发明(设计)人：

张晓明孟文龙

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京鸿德海业知识产权代理有限公司 11412

代理人：

谷春静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220120
2022-05-27	公开	公开

共 50 条

[1]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365A ,2022-05-13

[2]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365B ,2024-11-08

[3]

回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

李洋 ;

陈蕾 .

中国专利 :CN115454826A ,2022-12-09

[4]

回归测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨凤霞 ;

张健 ;

张志宏 ;

王思远 ;

吴海英 ;

蒋宁 .

中国专利 :CN118051418A ,2024-05-17

[5]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高杨 .

中国专利 :CN110083543B ,2019-08-02

[6]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘多嘉 .

中国专利 :CN113391998A ,2021-09-14

[7]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

金鑫 .

中国专利 :CN114218069B ,2022-03-22

[8]

回归测试方法、电子设备及存储介质 [P].

钟乐 ;

马玉涛 ;

岳逸飞 .

中国专利 :CN117785699A ,2024-03-29

[9]

回归测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

朱鸿儒 ;

魏立明 ;

张茂杰 ;

姜威 ;

张雪娇 .

中国专利 :CN120653540A ,2025-09-16

[10]

性能回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨昊 ;

李涛 ;

黄灿 ;

魏胜云 ;

李阳 .

中国专利 :CN119759755A ,2025-04-04

← 1 2 3 4 5 →