回归测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111353264.1

申请日：

2021-11-16

公开(公告)号：

CN114218069B

公开(公告)日：

2022-03-22

发明(设计)人：

金鑫

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京鸿德海业知识产权代理有限公司 11412

代理人：

谷春静

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	授权	授权
2022-03-22	公开	公开
2022-04-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211116

共 50 条

[1]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张晓明 ;

孟文龙 .

中国专利 :CN114546830A ,2022-05-27

[2]

回归测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨凤霞 ;

张健 ;

张志宏 ;

王思远 ;

吴海英 ;

蒋宁 .

中国专利 :CN118051418A ,2024-05-17

[3]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高杨 .

中国专利 :CN110083543B ,2019-08-02

[4]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘多嘉 .

中国专利 :CN113391998A ,2021-09-14

[5]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365A ,2022-05-13

[6]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365B ,2024-11-08

[7]

回归测试方法、电子设备及存储介质 [P].

钟乐 ;

马玉涛 ;

岳逸飞 .

中国专利 :CN117785699A ,2024-03-29

[8]

回归测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

朱鸿儒 ;

魏立明 ;

张茂杰 ;

姜威 ;

张雪娇 .

中国专利 :CN120653540A ,2025-09-16

[9]

回归测试用例的确定方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

邓结慧 ;

朱乐和 ;

梁琦 ;

卢树英 .

中国专利 :CN119473916A ,2025-02-18

[10]

语音测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

汪木金 ;

徐木水 ;

纪纲 ;

姜俊 .

中国专利 :CN114495976B ,2025-10-28

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