一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820945938.4

申请日：

2018-06-19

公开(公告)号：

CN208255051U

公开(公告)日：

2018-12-18

发明(设计)人：

李斌罗长海张永珍王姝言孙晓冬

申请人：

申请人地址：

100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107

IPC主分类号：

G01N213563

IPC分类号：

G01N213581

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

王莹;吴欢燕

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 [P].

李斌 ;

张永珍 ;

罗长海 ;

陈怡每 .

中国专利 :CN108535210A ,2018-09-14

[2]

太赫兹光谱测量样品架 [P].

朱中杰 ;

赵红卫 ;

张建兵 .

中国专利 :CN209513593U ,2019-10-18

[3]

一种光谱测量的样品研磨装置 [P].

伏振兴 ;

刘碧蕊 .

中国专利 :CN214262154U ,2021-09-24

[4]

太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架 [P].

高磊 ;

张平 ;

衣玲学 ;

于宪书 .

中国专利 :CN205538635U ,2016-08-31

[5]

一种用于太赫兹时域光谱测量的装置 [P].

祁春超 ;

唐莎娜 ;

袁弧 .

中国专利 :CN207751869U ,2018-08-21

[6]

适用于太赫兹时域光谱测量的液体样品架 [P].

赵红卫 ;

吴胜伟 ;

朱海云 ;

张增艳 ;

李晴暖 ;

刘晓鸿 ;

朱智勇 .

中国专利 :CN202041456U ,2011-11-16

[7]

太赫兹光谱测量中用于放置温度可控液体样品的装置 [P].

高磊 ;

于宪书 ;

赵丽君 ;

赵昆 .

中国专利 :CN204269534U ,2015-04-15

[8]

用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法 [P].

汪懋华 ;

李斌 ;

汪宁 .

中国专利 :CN102183463A ,2011-09-14

[9]

样品压片承载装置及具有该装置的太赫兹光谱测量系统 [P].

李斌 ;

沈晓晨 ;

龙园 ;

洪昊星 .

中国专利 :CN206399827U ,2017-08-11

[10]

用于太赫兹光谱测量的载样组件及太赫兹光谱测试方法 [P].

王志琪 ;

丁庆 ;

冯军正 .

中国专利 :CN107917893A ,2018-04-17

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