一种光谱测量的样品研磨装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023313325.5

申请日：

2020-12-31

公开(公告)号：

CN214262154U

公开(公告)日：

2021-09-24

发明(设计)人：

伏振兴刘碧蕊

申请人：

申请人地址：

756000 宁夏回族自治区固原市原州区学院路

IPC主分类号：

B02C1500

IPC分类号：

代理机构：

北京维知知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11503

代理人：

王玲芳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 [P].

李斌 ;

罗长海 ;

张永珍 ;

王姝言 ;

孙晓冬 .

中国专利 :CN208255051U ,2018-12-18

[2]

一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 [P].

李斌 ;

张永珍 ;

罗长海 ;

陈怡每 .

中国专利 :CN108535210A ,2018-09-14

[3]

一种土壤样品光谱测量装置 [P].

万述伟 ;

张金恒 ;

蔡葵 ;

刘华美 ;

郭庆增 ;

王文娇 ;

张业广 ;

王珍青 .

中国专利 :CN204964371U ,2016-01-13

[4]

一种光谱测量样品池装置 [P].

和晓晓 ;

贾梦辉 ;

潘春辉 ;

潘海峰 ;

王雪力 ;

陈缙泉 .

中国专利 :CN223346732U ,2025-09-16

[5]

太赫兹光谱测量样品架 [P].

朱中杰 ;

赵红卫 ;

张建兵 .

中国专利 :CN209513593U ,2019-10-18

[6]

光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[7]

一种光谱测量装置 [P].

罗韩生 ;

陈朗 ;

陈孝林 .

中国专利 :CN207231634U ,2018-04-13

[8]

一种光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN202522321U ,2012-11-07

[9]

光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[10]

一种光谱测量装置 [P].

唐星阳 ;

庄燕青 ;

吕迪洋 ;

吴从剑 .

中国专利 :CN205317345U ,2016-06-15

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