测试方法、装置以及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910784226.8

申请日：

2019-08-23

公开(公告)号：

CN112416739A

公开(公告)日：

2021-02-26

发明(设计)人：

徐烨

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232

代理人：

刘抗美

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-26	公开	公开
2021-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20190823

共 50 条

[1]

接口测试方法、装置以及电子设备 [P].

张琦 ;

于功川 ;

邱星宇 ;

吴正豪 ;

金秋 .

中国专利 :CN119046074A ,2024-11-29

[2]

测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

吴玉培 .

中国专利 :CN113592305A ,2021-11-02

[3]

测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

吴玉培 .

中国专利 :CN113592305B ,2024-08-13

[4]

接口的测试方法、装置以及电子设备 [P].

王小虎 ;

董佳涵 ;

周启航 ;

李香龙 ;

郭广鑫 ;

李博文 ;

戴罕奇 ;

朱香文 ;

刘慧敏 ;

石博森 .

中国专利 :CN120276991A ,2025-07-08

[5]

测试方法以及电子设备 [P].

李松 .

中国专利 :CN118193397A ,2024-06-14

[6]

系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

杨德宽 .

中国专利 :CN114328047B ,2025-12-05

[7]

回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

李洋 ;

陈蕾 .

中国专利 :CN115454826A ,2022-12-09

[8]

系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

杨德宽 .

中国专利 :CN114328047A ,2022-04-12

[9]

地图测试方法、装置以及电子设备 [P].

张力锴 ;

何俏君 ;

刘真 ;

苏威霖 ;

蔡璐珑 ;

鲁光伟 .

中国专利 :CN115979239B ,2025-09-12

[10]

测试方法和装置以及电子设备 [P].

谢子明 .

中国专利 :CN111159008A ,2020-05-15

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