能谱分辨的X射线成像装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200780046161.2

申请日：

2007-12-11

公开(公告)号：

CN101557762B

公开(公告)日：

2009-10-14

发明(设计)人：

C·博伊默 R·斯特德曼布克 G·福格特米尔 T·谢尔 C·勒夫

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

王英;刘炳胜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-10-14	公开	公开
2018-12-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20071211 授权公告日:20120627 终止日期:20171211
2010-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-06-27	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线成像装置 [P].

傅言宁 .

中国专利 :CN107072609A ,2017-08-18

[2]

X射线成像装置和X射线成像方法 [P].

崔盛壹 ;

安柄俊 ;

卢相伯 ;

吴致泽 .

中国专利 :CN105764423A ,2016-07-13

[3]

X射线成像装置和X射线成像方法 [P].

崔盛壹 ;

安柄俊 ;

卢相伯 ;

吴致泽 .

中国专利 :CN110946610A ,2020-04-03

[4]

X射线成像装置和X射线成像方法 [P].

崔盛壹 .

中国专利 :CN107072610A ,2017-08-18

[5]

X射线成像装置 [P].

崔盛壹 .

中国专利 :CN113133780A ,2021-07-20

[6]

X射线成像装置 [P].

崔盛壹 .

韩国专利 :CN113133780B ,2024-10-22

[7]

X射线成像装置及X射线成像方法 [P].

戴庆 ;

李振军 ;

李驰 ;

白冰 .

中国专利 :CN109507215B ,2019-03-22

[8]

光谱分辨的X射线成像 [P].

T·阿尔门丁格尔 ;

M·于尔根斯 ;

A·齐格勒 ;

P·沃尔法特 .

德国专利 :CN118830867A ,2024-10-25

[9]

X射线成像装置 [P].

佐野哲 ;

白井太郎 ;

土岐贵弘 ;

堀场日明 ;

森本直树 .

中国专利 :CN109425624B ,2019-03-05

[10]

X射线探测器和X射线成像装置 [P].

H·施泰因豪泽 ;

O·J·维默斯 ;

P·L·阿尔温 ;

M·西蒙 .

中国专利 :CN110168406A ,2019-08-23

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