光学路线检查系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510565052.8

申请日：

2015-09-08

公开(公告)号：

CN105398471B

公开(公告)日：

2016-03-16

发明(设计)人：

N.奈塔尼 D.J.劳 S.D.奈尔逊 N.U.纳法德

申请人：

申请人地址：

美国纽约州

IPC主分类号：

B61L2300

IPC分类号：

H04N718 B61K908

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

杨美灵;姜甜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101738969411 IPC(主分类):B61L 23/00 专利申请号:2015105650528 申请日:20150908
2021-10-01	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):B61L 23/00 变更事项:专利权人变更前:通用电气全球采购有限责任公司变更后:IP传输控股公司变更事项:地址变更前:美国康涅狄格州变更后:美国康涅狄格州
2019-02-19	授权	授权
2019-04-19	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):B61L 23/00 登记生效日:20190329 变更事项:专利权人变更前权利人:通用电气公司变更后权利人:通用电气全球采购有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:美国．纽约州变更后权利人:美国康涅狄格州
2016-03-16	公开	公开

共 50 条

[1]

路线检查系统和方法 [P].

J.F.诺夫辛格 ;

A.K.库马 ;

Y.A.普洛特尼科夫 ;

J.M.弗里斯 ;

S.博亚纳帕利 ;

S.J.埃雷特 .

中国专利 :CN104936849B ,2015-09-23

[2]

路线检查系统和方法 [P].

Y.A.普罗特尼科夫 ;

B.A.马修斯 ;

A.K.库马 ;

J.M.弗里斯 ;

J.F.诺夫辛格 ;

S.P.普纳查 ;

T.弗兰吉 ;

F.W.惠勒 ;

B.L.斯塔顿 ;

T.R.布朗 ;

G.博夫曼 ;

M.纳耶里 .

中国专利 :CN106476848A ,2017-03-08

[3]

路线检查系统和方法 [P].

J.F.诺夫辛格 ;

J.M.弗里斯 .

中国专利 :CN105059316A ,2015-11-18

[4]

自动光学检查系统和自动光学检查方法 [P].

任炳铉 ;

崔铉镐 .

中国专利 :CN101082490B ,2007-12-05

[5]

光学检查设备和光学检查系统 [P].

西胁正行 ;

春山弘司 .

中国专利 :CN104034508A ,2014-09-10

[6]

路线检查系统 [P].

B.A.马修斯 ;

G.博弗曼 ;

Y.A.普罗特尼科夫 ;

F.W.惠勒 ;

M.奈里 ;

J.M.弗里斯 .

中国专利 :CN106167034A ,2016-11-30

[7]

自动光学检查系统和方法 [P].

迈克尔·莱维 ;

伯纳德·所罗门 ;

多伦·阿斯皮尔 ;

伊拉德·弗里德曼 .

中国专利 :CN1732474A ,2006-02-08

[8]

物体光学检查系统和方法 [P].

莫塔塞姆·谢海伯 .

中国专利 :CN111263914A ,2020-06-09

[9]

光学检查系统及光学检查方法 [P].

朴仁譓 ;

金贤德 ;

李煐昌 ;

安亨敏 .

韩国专利 :CN118225774A ,2024-06-21

[10]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

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