光学检查设备和光学检查系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410075590.4

申请日：

2014-03-04

公开(公告)号：

CN104034508A

公开(公告)日：

2014-09-10

发明(设计)人：

西胁正行春山弘司

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

G01N21958

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

欧阳帆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-10-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587391908 IPC(主分类):G01M 11/00 专利申请号:2014100755904 申请日:20140304
2017-01-11	授权	授权
2014-09-10	公开	公开

共 50 条

[1]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

[2]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

[3]

光学检查系统 [P].

乔轶 ;

徐明 .

中国专利 :CN208091947U ,2018-11-13

[4]

光学检查装置、透镜以及光学检查方法 [P].

井川喜博 ;

千叶博伸 ;

上野善弘 .

中国专利 :CN108291854A ,2018-07-17

[5]

自动光学检查系统和自动光学检查方法 [P].

任炳铉 ;

崔铉镐 .

中国专利 :CN101082490B ,2007-12-05

[6]

光学设备用检查装置 [P].

大泽茂巳 ;

小室一真 .

中国专利 :CN101583860B ,2009-11-18

[7]

光学检查设备及光学检查方法 [P].

李坤原 .

中国专利 :CN107314788B ,2024-01-26

[8]

光学检查设备及光学检查方法 [P].

李坤原 .

中国专利 :CN107314788A ,2017-11-03

[9]

光学检查系统及光学检查方法 [P].

朴仁譓 ;

金贤德 ;

李煐昌 ;

安亨敏 .

韩国专利 :CN118225774A ,2024-06-21

[10]

光学检查系统及检查装置 [P].

张洋 ;

魏信鑫 ;

郑旭君 ;

刘三强 ;

王鉴哲 .

中国专利 :CN221266143U ,2024-07-05

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