光学检查装置、透镜以及光学检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780003987.4

申请日：

2017-03-08

公开(公告)号：

CN108291854A

公开(公告)日：

2018-07-17

发明(设计)人：

井川喜博千叶博伸上野善弘

申请人：

申请人地址：

日本国大阪府

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

齐秀凤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-17	公开	公开
2018-08-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20170308
2020-08-07	授权	授权

共 50 条

[1]

光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

大野启文 ;

川崎晃生 ;

吉川寿广 .

日本专利 :CN115809978B ,2025-11-07

[2]

光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法 [P].

河野博夫 ;

加贺美有一 .

中国专利 :CN101895662A ,2010-11-24

[3]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

中国专利 :CN114441529A ,2022-05-06

[4]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

日本专利 :CN114441529B ,2024-07-16

[5]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

[6]

光学检查方法以及使用它的光学检查装置 [P].

高濑智裕 ;

植松育生 ;

绳田功 .

中国专利 :CN1987423A ,2007-06-27

[7]

光学检查设备和光学检查系统 [P].

西胁正行 ;

春山弘司 .

中国专利 :CN104034508A ,2014-09-10

[8]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

[9]

光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

铃木小百合 ;

平川千纱 ;

大野启文 ;

高木义昭 .

日本专利 :CN118688099A ,2024-09-24

[10]

光学检查方法及存储介质以及使用了该光学检查方法的光学检查装置 [P].

大野博司 ;

冈野英明 ;

高梨健太 ;

神川卓大 ;

加纳宏弥 .

日本专利 :CN118687505A ,2024-09-24

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