光学检查方法以及使用它的光学检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610142988.0

申请日：

2006-10-26

公开(公告)号：

CN1987423A

公开(公告)日：

2007-06-27

发明(设计)人：

高濑智裕植松育生绳田功

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2127

IPC分类号：

G01N3353

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

王以平

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-12-30	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2007-06-27	公开	公开
2007-08-22	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

光学检查装置、透镜以及光学检查方法 [P].

井川喜博 ;

千叶博伸 ;

上野善弘 .

中国专利 :CN108291854A ,2018-07-17

[2]

光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

大野启文 ;

川崎晃生 ;

吉川寿广 .

日本专利 :CN115809978B ,2025-11-07

[3]

光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法 [P].

河野博夫 ;

加贺美有一 .

中国专利 :CN101895662A ,2010-11-24

[4]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

中国专利 :CN114441529A ,2022-05-06

[5]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

日本专利 :CN114441529B ,2024-07-16

[6]

光学检查方法及存储介质以及使用了该光学检查方法的光学检查装置 [P].

大野博司 ;

冈野英明 ;

高梨健太 ;

神川卓大 ;

加纳宏弥 .

日本专利 :CN118687505A ,2024-09-24

[7]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

[8]

光学检查装置和使用其的光学检查方法 [P].

朴佶永 ;

郑旻暻 ;

李熙荣 .

中国专利 :CN114076668A ,2022-02-22

[9]

光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

铃木小百合 ;

平川千纱 ;

大野启文 ;

高木义昭 .

日本专利 :CN118688099A ,2024-09-24

[10]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

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