光学检查装置和使用其的光学检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110935679.3

申请日：

2021-08-16

公开(公告)号：

CN114076668A

公开(公告)日：

2022-02-22

发明(设计)人：

朴佶永郑旻暻李熙荣

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道龙仁市

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

陈宇;韩芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-22	公开	公开

共 50 条

[1]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

[2]

光学检查装置和利用其的检查方法 [P].

崔铉镐 ;

金敏秀 .

中国专利 :CN102004110A ,2011-04-06

[3]

光学检查方法以及使用它的光学检查装置 [P].

高濑智裕 ;

植松育生 ;

绳田功 .

中国专利 :CN1987423A ,2007-06-27

[4]

用于容器的光学检查方法和光学检查装置 [P].

安东·尼德迈尔 .

中国专利 :CN108431586B ,2018-08-21

[5]

光学元件的检查装置和光学元件的检查方法 [P].

北林雅志 ;

高户雄二 .

中国专利 :CN1220905C ,2003-03-26

[6]

光学检查方法及存储介质以及使用了该光学检查方法的光学检查装置 [P].

大野博司 ;

冈野英明 ;

高梨健太 ;

神川卓大 ;

加纳宏弥 .

日本专利 :CN118687505A ,2024-09-24

[7]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

中国专利 :CN114441529A ,2022-05-06

[8]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

日本专利 :CN114441529B ,2024-07-16

[9]

光学检查设备和光学检查系统 [P].

西胁正行 ;

春山弘司 .

中国专利 :CN104034508A ,2014-09-10

[10]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

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