光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311162750.4

申请日：

2023-09-08

公开(公告)号：

CN118688099A

公开(公告)日：

2024-09-24

发明(设计)人：

大野博司加纳宏弥神川卓大冈野英明铃木小百合平川千纱大野启文高木义昭

申请人：

株式会社东芝东芝情报系统株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/64 G01N21/95

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

肖靖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-24	公开	公开
2024-10-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20230908

共 50 条

[1]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

[2]

光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

大野启文 ;

川崎晃生 ;

吉川寿广 .

日本专利 :CN115809978B ,2025-11-07

[3]

光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质 [P].

大野博司 .

中国专利 :CN115115714A ,2022-09-27

[4]

光学检查方法及存储介质以及使用了该光学检查方法的光学检查装置 [P].

大野博司 ;

冈野英明 ;

高梨健太 ;

神川卓大 ;

加纳宏弥 .

日本专利 :CN118687505A ,2024-09-24

[5]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

中国专利 :CN114441529A ,2022-05-06

[6]

光学摄像装置、光学检查装置以及光学检查方法 [P].

大野博司 .

日本专利 :CN114441529B ,2024-07-16

[7]

检查装置、检查方法、以及存储有程序的存储介质 [P].

海津正博 ;

杉山胜彦 ;

泷本达也 .

日本专利 :CN118671094A ,2024-09-20

[8]

光学检查装置、透镜以及光学检查方法 [P].

井川喜博 ;

千叶博伸 ;

上野善弘 .

中国专利 :CN108291854A ,2018-07-17

[9]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

木藤圭亮 ;

河内清人 ;

山本匠 ;

西川弘毅 .

中国专利 :CN112204528A ,2021-01-08

[10]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

饭田大贵 .

日本专利 :CN120396968A ,2025-08-01

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