半导体器件及其形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN201710257912.0
申请日
2017-04-19
公开(公告)号
CN108735807B
公开(公告)日
2018-11-02
发明(设计)人
陈卓凡
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L29739
IPC分类号
H01L21331
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣;吴敏
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
钱仕兵 .
中国专利 :CN112582414B ,2021-03-30
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN101452886B ,2011-05-11
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
方明旭 ;
陈华伦 .
中国专利 :CN115642087A ,2023-01-24
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
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江涛 .
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵星 .
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
汪红红 ;
洪纪伦 ;
吴宗祐 ;
林宗贤 .
中国专利 :CN110112065A ,2019-08-09
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
王潇 ;
孔云龙 .
中国专利 :CN109935548B ,2019-06-25