控制显微镜拍摄试样图像的方法、系统、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011441077.4

申请日：

2020-12-11

公开(公告)号：

CN112415733A

公开(公告)日：

2021-02-26

发明(设计)人：

张大庆

申请人：

申请人地址：

314299 浙江省嘉兴市平湖市钟埭街道新兴二路988号4幢306室

IPC主分类号：

G02B2100

IPC分类号：

G02B2136

代理机构：

上海华诚知识产权代理有限公司 31300

代理人：

崔巍

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 21/00 申请日:20201211
2021-02-26	公开	公开

共 50 条

[1]

控制显微镜拍摄试样图像的方法、系统、设备及介质 [P].

张大庆 .

中国专利 :CN112415733B ,2024-01-09

[2]

用显微镜拍摄试样图像的方法、系统、设备及介质 [P].

张大庆 .

中国专利 :CN112505910A ,2021-03-16

[3]

显微镜拍摄图像的方法及拍摄装置 [P].

韩月卿 ;

张军涛 ;

郝运轻 ;

李双建 ;

林娟华 ;

沃玉进 ;

李慧莉 ;

李天义 ;

袁玉松 ;

高键 .

中国专利 :CN115390234A ,2022-11-25

[4]

用于拍摄试样区域的荧光图像的方法和显微镜系统 [P].

M·哈根-埃格特 ;

T·J·祖姆普夫 .

中国专利 :CN111352228A ,2020-06-30

[5]

显微镜系统的控制方法、显微镜系统、记录介质 [P].

冈田昌也 ;

岩永茂树 .

中国专利 :CN110967820B ,2020-04-07

[6]

用于拍摄图像的方法和显微镜系统 [P].

H·潘恩霍夫 ;

M·哈根-埃格特 ;

M·莫林 ;

M·米勒 ;

T·J·祖姆普夫 .

中国专利 :CN110785692A ,2020-02-11

[7]

显微镜系统和显微镜系统的控制方法 [P].

木原信宏 ;

大里洁 ;

木岛公一朗 .

中国专利 :CN102053358A ,2011-05-11

[8]

带电粒子显微镜以及试样拍摄方法 [P].

庄子美南 ;

津野夏规 ;

大南祐介 .

中国专利 :CN109075002A ,2018-12-21

[9]

显微镜及显微镜系统 [P].

叶冲斌 .

中国专利 :CN207529015U ,2018-06-22

[10]

控制装置、显微镜及用于控制显微镜的方法 [P].

K·瑞特舍尔 ;

V·沙赫特 ;

T·霍夫曼 ;

Z·萨伯蒂克 .

德国专利 :CN121028354A ,2025-11-28

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