一种染料剂的荧光光谱测试技术装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620034934.1

申请日：

2016-01-14

公开(公告)号：

CN205484047U

公开(公告)日：

2016-08-17

发明(设计)人：

严峰史久林杨俊杰周锐武浩鹏王泓鹏钱佳成张余宝何兴道

申请人：

申请人地址：

330000 江西省南昌市丰和南大道696号

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

南昌洪达专利事务所 36111

代理人：

刘凌峰

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20160114 授权公告日:20160817 终止日期:20170114
2016-08-17	授权	授权

共 50 条

[1]

一种新型荧光光谱测试支架装置 [P].

李慧珍 ;

李良钊 ;

黄庆安 ;

李伟元 ;

曹娟 ;

黄洁萍 ;

李运辉 .

中国专利 :CN217112143U ,2022-08-02

[2]

一种荧光光谱的测试装置 [P].

薛占强 ;

郭翠 ;

潘奕 .

中国专利 :CN211292589U ,2020-08-18

[3]

一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法 [P].

薛占强 ;

郭翠 ;

潘奕 .

中国专利 :CN110579458A ,2019-12-17

[4]

检测显微定位荧光光谱的装置 [P].

许春 ;

殷海玮 ;

章炜毅 .

中国专利 :CN203132993U ,2013-08-14

[5]

一种空间荧光光谱测量装置 [P].

金策 ;

刘涛 ;

熊明 .

中国专利 :CN208568597U ,2019-03-01

[6]

一种荧光光谱检测系统 [P].

程朋飞 ;

潘金燕 ;

王嘉伟 .

中国专利 :CN212432983U ,2021-01-29

[7]

半导体晶片的高速荧光光谱检测装置 [P].

徐杰 ;

郭金源 .

中国专利 :CN204359694U ,2015-05-27

[8]

一种基于荧光光谱特性的罗丹明检测装置 [P].

李倩茹 ;

张留洋 ;

于泽 .

中国专利 :CN210863540U ,2020-06-26

[9]

一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置 [P].

王殳凹 ;

陈兰花 ;

王亚星 .

中国专利 :CN110031494A ,2019-07-19

[10]

一种激光诱导拉曼、荧光光谱测试系统 [P].

陈兴海 .

中国专利 :CN119334922A ,2025-01-21

← 1 2 3 4 5 →