一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910912443.0

申请日：

2019-09-25

公开(公告)号：

CN110579458A

公开(公告)日：

2019-12-17

发明(设计)人：

薛占强郭翠潘奕

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01J344

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

李海宝

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-17	公开	公开
2020-10-02	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01N 21/64 登记生效日:20200914 变更事项:申请人变更前权利人:深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司变更后权利人:深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋430室变更事项:申请人变更前权利人:深圳市太赫兹系统设备有限公司变更后权利人:深圳市太赫兹系统设备有限公司
2020-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20190925

共 50 条

[1]

一种荧光光谱的测试装置 [P].

薛占强 ;

郭翠 ;

潘奕 .

中国专利 :CN211292589U ,2020-08-18

[2]

一种荧光光谱的测试装置及测试方法 [P].

薛占强 ;

郭翠 ;

潘奕 .

中国专利 :CN109490271A ,2019-03-19

[3]

一种新型荧光光谱测试支架装置 [P].

李慧珍 ;

李良钊 ;

黄庆安 ;

李伟元 ;

曹娟 ;

黄洁萍 ;

李运辉 .

中国专利 :CN217112143U ,2022-08-02

[4]

荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置 [P].

角田正也 ;

二村孝治 ;

酒井启嗣 ;

加藤泰信 .

中国专利 :CN102539397A ,2012-07-04

[5]

一种染料剂的荧光光谱测试技术装置 [P].

严峰 ;

史久林 ;

杨俊杰 ;

周锐 ;

武浩鹏 ;

王泓鹏 ;

钱佳成 ;

张余宝 ;

何兴道 .

中国专利 :CN205484047U ,2016-08-17

[6]

一种可测试材料的荧光光谱、余辉及荧光寿命的装置 [P].

王殳凹 ;

陈兰花 ;

王亚星 .

中国专利 :CN110031494A ,2019-07-19

[7]

粉末样品X荧光光谱仪专用测试装置 [P].

陈正辉 .

中国专利 :CN213423027U ,2021-06-11

[8]

纸币荧光光谱检测装置 [P].

周望 .

中国专利 :CN201402480Y ,2010-02-10

[9]

一种激发与探测分离的微区瞬态荧光光谱测试装置 [P].

范鹏 ;

刘永利 ;

姜海 ;

刘俞含 .

中国专利 :CN117470822A ,2024-01-30

[10]

检测显微定位荧光光谱的装置 [P].

许春 ;

殷海玮 ;

章炜毅 .

中国专利 :CN203132993U ,2013-08-14

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