一种电子器件测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711329807.X

申请日：

2017-12-13

公开(公告)号：

CN108132406A

公开(公告)日：

2018-06-08

发明(设计)人：

廖星庆高晶晶刘爽王向红

申请人：

申请人地址：

430056 湖北省武汉市经济技术开发区东风大道888号

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

黄志华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-08	公开	公开
2018-07-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20171213
2021-02-12	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/02 申请公布日:20180608

共 50 条

[1]

光电子器件测试设备 [P].

冉茂武 .

中国专利 :CN214473679U ,2021-10-22

[2]

一种光电子器件用测试设备 [P].

陈焱斌 .

中国专利 :CN221926512U ,2024-10-29

[3]

一种光电子器件测试设备 [P].

赵海涛 ;

罗亚非 .

中国专利 :CN217084557U ,2022-07-29

[4]

一种光电子器件测试设备 [P].

陈炜 .

中国专利 :CN216420229U ,2022-05-03

[5]

一种电子器件自动测试设备 [P].

耿一峰 ;

冯朔 .

中国专利 :CN217017530U ,2022-07-22

[6]

电子器件测试驱动装置 [P].

陈志宝 .

中国专利 :CN216589378U ,2022-05-24

[7]

电子器件的测试头 [P].

斯太法罗·费利奇 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN105102990A ,2015-11-25

[8]

一种真空电子器件测试设备检测传送装置 [P].

朱燕 ;

余乐毅 ;

沈晓慧 .

中国专利 :CN211741442U ,2020-10-23

[9]

一种电子器件正负极的测试设备 [P].

许诚发 .

中国专利 :CN204649880U ,2015-09-16

[10]

一种电子器件正负极的测试设备 [P].

许诚发 .

中国专利 :CN104849605A ,2015-08-19

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